software solutions


The All-Images-Classification-Engine for semiconductor manufacturers

Convanit provides a complete solution for AI based image classification to enable manufacturing companies to automatically analyze images of any type.

Well suited for semiconductor industry, electronics manufacturing, automotive, plastics, pharmaceutical and food industry

Works for a large variety of industrial cameras, inspection and vision systems including optical and scanning electron microscopes, defect maps and  electrical test data.


One centralized AI-framework for the whole production site


Independent of imaging systems


optimized algorithms based on use case

Your benefits

one for all

c-Alice can classify all types of images: any type of inspection / microscopy, wafer maps, test maps and others.

fast & accurate

c-Alice generates classification results in seconds. High accuracy is achieved by using fast and optimized algorithms.

complete workflow

c-Alice provides image and recipe management including versioning, monitoring, deployment and meta data integration. Low maintenance effort and reduced manpower ensure efficient classification in production.

easy set-up

c-Alice allows easy recipe set up without further AI knowledge. Users can manage images and context data comfortably in order to train, verify and release recipes.


c-Alice is based on a modern architecture and can be integrated flexibly in your production environment.

Use Cases

Classification tasks

classification of failure types in defect images (scratches, holes, particles, stains, missing structures and more), reduction of pseudo defects, color control

Anomaly detection

find unexpected deviations

Pattern, structure and surface analysis

pattern recognition of defect and binsort wafer maps, structure analysis of materials and liquids and more

Object detection

counting, position control, completeness check

From classification towards characterization

 Beyond just image classification, c-alice can process arbitrary data along with the images to characterize defects and other problems.

Implementation scenario in a semiconductor production environment

Who we are

Convanit combines domain experts, data scientists and software developers to create concepts, methods and tools in the area of yield improvement and production monitoring. We love this versatility and the resulting creativity.

10+ experts are working on the c-Alice project

convanit GmbH & Co. KG

combination with IT and data science

Founded in


in Germany

Experts with more than


years of industry expertise in production control

Projects in more than


manufacturing sites

Our Networks

Cooperation with several local AI expert groups within university and institutes

Silicon Saxony

member and active lead of working group ‚Yield and Reliability‘


lead of conferences: ‚European Yield Enhancement group‘ & ‚DIA (data integration and analytics) group‘


member of smart electronic factory

Smart System Hub

member of Smart System Hub

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