Convanit bietet eine Komplettlösung für die KI-basierte Bildklassifizierung, die es Unternehmen ermöglicht, Bilder jeglicher Art automatisch auszuwerten.
Optische Mikroskop- und SEM-Bilder, CD-SEM, Defekt-Maps für Wafer, elektrische Testdaten und andere Anwendungsfälle
zentral
Ein zentrales KI-Framework für den gesamten Produktionsstandort
unabhängig
unabhängig von bild- und datenerzeugenden Tools und Systemen
anpassbar
optimierte Algorithmen für den konkreten Anwendungsfall
Ihr Vorteile
alle Bildtypen
c-Alice kann alle Arten von Bildern klassifizieren: jede Art von Inspektion / Mikroskopie, Wafer Maps, Test Maps und andere.
schnell & genau
c-Alice erzeugt Klassifizierungsergebnisse in Sekundenschnelle. Durch die Verwendung schneller und optimierter Algorithmen wird eine hohe Genauigkeit erreicht.
Kompletter Workflow
c-Alice bietet Image- und Rezeptmanagement einschließlich Versionierung, Überwachung, Bereitstellung und Metadatenintegration. Geringer Wartungsaufwand und reduzierter Personaleinsatz sorgen für eine effiziente Klassifizierung in der Produktion.
einfach zu bedienen
c-Alice ermöglicht die einfache Erstellung von Rezepten ohne weitere KI-Kenntnisse. Benutzer können Bilder und Kontextdaten bequem verwalten, um Rezepte zu trainieren, zu verifizieren und freizugeben.
flexibel
c-Alice basiert auf einer modernen Architektur Einzelne Komponenten können flexibel in Ihrer Produktionsumgebung integriert werden.
Use Cases
Supervised
Klassifizierung von Fehlertypen in Defektbildern, Mustererkennung von Defekt- und Binsort-Wafermaps
Semi-Supervised
Halbautomatische Vorsortierung von Bildern nach Klasse
Unsupervised
Anomalie-Detektion und mehr
Von der Klassifikation zur Charakterisierung
Über die reine Bildklassifikation hinaus kann c-alice beliebige Daten zusammen mit den Bildern verarbeiten, um Defekte und Probleme zu charakterisieren.
Über uns
Convanit vereint Fachexperten, Datenwissenschaftler und Softwareentwickler, um Konzepte, Methoden und Werkzeuge im Bereich Yield Engineering und Produktionsüberwachung zu entwickeln. Wir lieben diese Vielseitigkeit und die daraus resultierende Kreativität.
10+ Experten arbeiten an c-Alice
convanit GmbH & Co. KG
Kombination von Anwender Knowhow, IT und Data Science
gegründet
in Deutschland
Experten mit mehr als
Jahren Branchenerfahrung in der Produktionskontrolle
Projekte in mehr als
Produktionsstandorten
Unser Netzwerk
Zusammenarbeit mit mehreren lokalen KI-Expertengruppen, Universitäten und Instituten
Silicon Saxony
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SEF
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Auswahl unserer Kunden
Letzte Veröffentlichungen
Digitale Welt: KI in der Fertigungskontrolle – Herausforderungen und Strategien
Für die Bewertung von Zeitreihen-, Bild- und anderen Daten, ist gerade bei Zuordnungs- und Klassifizierungsaufgaben und der Erkennung von Mustern und Anomalien der Nutzen von KI Methoden hoch. Die dafür notwendige Rechenleistung ist heute ‚bezahlbar‘ und erprobte Mathematik sowie mächtige Open-Source Softwarebibliotheken stehen zur Verfügung. Dieser Artikel beschreibt Herausforderungen bei der Einführung von KI Methoden in der Fertigungskontrolle und die daraus abzuleitenden Strategien.
Silicon Saxony - Smart Systems: Vom individuellen KI Anwendungsfall zur zeitnahen bezahlbaren Umsetzung in der Fertigung
Im KMU Bereich gibt es noch viele ‚ungehobene Schätze‘ im Bereich KI, wie zum Beispiel in der Fertigungskontrolle. Fachwissen, KI Methoden und Daten sind zwar vorhanden, jedoch fehlt für eine produktionsreife Lösung häufig noch das richtige Konzept zur pragmatischen Verbindung dieser Komponenten. Der Weg dahin muss nicht schwer sein, wenn man sich auf das Wesentliche konzentriert.
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