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c-Alice

Automatisierte Bildklassifizierung für die Fertigungskontrolle

Convanit bietet eine Komplettlösung für die KI-basierte Bildklassifizierung, die es Unternehmen ermöglicht, Bilder jeglicher Art automatisch auszuwerten.

Optische Mikroskop- und SEM-Bilder, CD-SEM, Defekt-Maps für Wafer, elektrische Testdaten und andere Anwendungsfälle

zentral

Ein zentrales KI-Framework für den gesamten Produktionsstandort

unabhängig

unabhängig von bild- und datenerzeugenden Tools und Systemen

anpassbar

optimierte Algorithmen für den konkreten Anwendungsfall

Ihr Vorteile

alle Bildtypen

c-Alice kann alle Arten von Bildern klassifizieren: jede Art von Inspektion / Mikroskopie, Wafer Maps, Test Maps und andere.

schnell & genau

c-Alice erzeugt Klassifizierungsergebnisse in Sekundenschnelle. Durch die Verwendung schneller und optimierter Algorithmen wird eine hohe Genauigkeit erreicht.

Kompletter Workflow

c-Alice bietet Image- und Rezeptmanagement einschließlich Versionierung, Überwachung, Bereitstellung und Metadatenintegration. Geringer Wartungsaufwand und reduzierter Personaleinsatz sorgen für eine effiziente Klassifizierung in der Produktion.

einfach zu bedienen

c-Alice ermöglicht die einfache Erstellung von Rezepten ohne weitere KI-Kenntnisse. Benutzer können Bilder und Kontextdaten bequem verwalten, um Rezepte zu trainieren, zu verifizieren und freizugeben.

flexibel

c-Alice basiert auf einer modernen Architektur Einzelne Komponenten können flexibel in Ihrer Produktionsumgebung integriert werden.

Use Cases

Supervised

Klassifizierung von Fehlertypen in Defektbildern, Mustererkennung von Defekt- und Binsort-Wafermaps

Semi-Supervised

Halbautomatische Vorsortierung von Bildern nach Klasse

Unsupervised

Anomalie-Detektion und mehr

Von der Klassifikation zur Charakterisierung

Über die reine Bildklassifikation hinaus kann c-alice beliebige Daten zusammen mit den Bildern verarbeiten, um Defekte  und Probleme zu charakterisieren.

Implementierungsszenario in einer Halbleiterproduktionsumgebung

Über uns

Convanit vereint Fachexperten, Datenwissenschaftler und Softwareentwickler, um Konzepte, Methoden und Werkzeuge im Bereich Yield Engineering und Produktionsüberwachung zu entwickeln. Wir lieben diese Vielseitigkeit und die daraus resultierende Kreativität.

10+ Experten arbeiten an c-Alice

convanit GmbH & Co. KG

Kombination von Anwender Knowhow, IT und Data Science

gegründet

2010

in Deutschland

Experten mit mehr als

30

Jahren Branchenerfahrung in der Produktionskontrolle

Projekte in mehr als

20

Produktionsstandorten

Unser Netzwerk

Zusammenarbeit mit mehreren lokalen KI-Expertengruppen, Universitäten und Instituten

Silicon Saxony

Mitglied und aktive Leitung der Arbeitsgruppe 'Ertrag und Zuverlässigkeit'

VDI/GMM

Leitung von Konferenzen: Europäische Gruppe für Yield Enhancement und deutschlandweite Gruppe für Datenintegration und -analytik

SEF

Mitglied bei smart electronic factory

Smart System Hub

Mitglied bei Smart System Hub

Auswahl unserer Kunden

Letzte Veröffentlichungen

Digitale Welt: KI in der Fertigungskontrolle – Herausforderungen und Strategien

Für die Bewertung von Zeitreihen-, Bild- und anderen Daten, ist gerade bei Zuordnungs- und Klassifizierungsaufgaben und der Erkennung von Mustern und Anomalien der Nutzen von KI Methoden hoch. Die dafür notwendige Rechenleistung ist heute ‚bezahlbar‘ und erprobte Mathematik sowie mächtige Open-Source Softwarebibliotheken stehen zur Verfügung. Dieser Artikel beschreibt Herausforderungen bei der Einführung von KI Methoden in der Fertigungskontrolle und die daraus abzuleitenden Strategien.

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